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- F10-RTFilmetrics薄膜厚度測量儀
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結果能被快速地導出和打印。
- 型號：F10-RT
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- F20Filmetrics 單點光學膜厚測量儀
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結果?；谀K化設計的特點，F(xiàn)ilmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應用。
- 型號：F20
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F40Filmetrics 光學膜厚測量儀
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結果。當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得厚度及光學參數(shù)值。
- 型號：F40
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F50Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
- 型號：F50
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F54-XY-200Filmetrics 自動光學膜厚測量儀
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
- 型號：F54-XY-200
- 更新日期：2025-09-23 ￥面議
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- F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測厚儀
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀是一款高精度、多功能的測量設備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種脆弱或敏感材料，具備納米級分辨率，測量范圍廣（1nm-3mm）。該儀器適用于多種應用場景，包括半導體、光學、生物醫(yī)學等領域。F20膜厚儀可在數(shù)秒內(nèi)提供準確的測量結果，支持單層及多層薄膜分析，為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供可靠支持。
- 型號：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- F54-XYT-300Filmetrics 自動測量光學膜厚儀
Filmetrics 自動測量光學膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供快速的厚度測量，速度達到每秒兩點。
- 型號：F54-XYT-300
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
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- F32Filmetrics 光學膜厚測量儀
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本至多兩個位置)。F32膜厚儀軟件可以通過數(shù)字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導出到主機軟件中進行統(tǒng)計過程控制。還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。
- 型號：F32
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
