Filmetrics薄膜厚度測量儀
簡要描述：Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
產(chǎn)品型號：F10-RT- 廠商性質(zhì)：代理商
- 更新時間：2025-09-12
- 訪 問 量：3861
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀
產(chǎn)品介紹：
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
產(chǎn)品特點優(yōu)勢：
同步測量薄膜的反射率/穿透率，1s內(nèi)獲得結(jié)果；
簡單快速、易于使用的分析優(yōu)點；
設(shè)備具有完整標(biāo)準(zhǔn)配置，確保設(shè)備高度可靠；
測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
產(chǎn)品測量原理：
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：
顯示技術(shù) | 消費電子 | 派瑞林 | |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽能電池 | 醫(yī)療器械 |
微機電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽極膜 | 硅橡膠 |
產(chǎn)品參數(shù)：
波長范圍： | 190nm-1700nm | 光源： | 鎢鹵素?zé)簟?氘燈 |
厚度測量范圍： | 1nm-150μm | 測量精度： | 0.01nm |
光斑大小： | 6mm | 穩(wěn)定性： | 0.05nm |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |||
Filmetrics薄膜厚度測量儀測量圖：
