Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量儀自動(dòng)化MAPPING
簡要描述:Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀依靠光譜測(cè)量系統(tǒng),可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非??焖?,大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀配置精度高使用壽命長的移動(dòng)平臺(tái),以求能夠做成千上萬次測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào):F50
廠商性質(zhì):代理商
更新時(shí)間:2025-06-24
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Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀

Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀產(chǎn)品介紹:
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀依靠光譜測(cè)量系統(tǒng),可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非??焖?,大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀配置精度高使用壽命長的移動(dòng)平臺(tái),以求能夠做成千上萬次測(cè)量。
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng),快速定位、實(shí)時(shí)獲得結(jié)果;
可測(cè)樣品膜層:基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測(cè)量;
測(cè)繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn),方便用戶從不同的角度檢視;
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀測(cè)量原理:
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射,由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀常見工業(yè)應(yīng)用:
半導(dǎo)體膜層  | 顯示技術(shù)  | 消費(fèi)電子  | 派瑞林  | 
光刻膠  | OLED  | 防水涂層  | 電子產(chǎn)品/電路板  | 
介電層  | ITO和TCOs  | 射頻識(shí)別  | 磁性材料  | 
砷化鎵  | 空氣盒厚  | 太陽能電池  | 醫(yī)學(xué)器械  | 
微機(jī)電系統(tǒng)  | PVD和CVD  | 鋁制外殼陽極膜  | 硅橡膠  | 
Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀產(chǎn)品參數(shù):
波長范圍:  | 190nm-1340nm  | 光源:  | 鎢鹵素?zé)?、氘?/span>  | 
厚度測(cè)量范圍:  | 5nm-2mm  | 測(cè)量精度:  | 0.02nm  | 
光斑大?。?/span>  | 標(biāo)準(zhǔn)1.5毫米  | 樣品臺(tái)尺寸:  | 1-300mm  | 
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Filmetrics F50 自動(dòng)Mapping膜厚測(cè)量儀測(cè)量圖:







