Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品介紹：

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F(xiàn)ilmetrics F40 薄膜厚度測量儀就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品特點優(yōu)勢：

• 結(jié)合顯微鏡的膜厚測量系統(tǒng)，光斑小至一微米的測量精度；

• 匹配市面多數(shù)的顯微鏡連接使用；

• 清晰且直觀地觀察樣品并確認測量位置；

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀測量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：

• 薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

• 薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣

• 薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測量

• 薄膜結(jié)構(gòu)：單層膜、多層膜；平面、曲面

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品常見工業(yè)應(yīng)用：

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品參數(shù)：

Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀測量圖：