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- F60-tFilmetrics 自動(dòng)光反射膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics F60-t 自動(dòng)光反射膜厚儀就像我們的F50白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品一樣。主要測(cè)繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功能包括凹槽自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)基準(zhǔn)確定、全封閉測(cè)量平臺(tái)、預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī)，以及可以升級(jí)到全自動(dòng)化晶圓傳輸?shù)臋C(jī)型。
- 型號(hào)：F60-t
- 更新日期：2025-06-25 ￥1
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- F54Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米，可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無(wú)數(shù)量限制之測(cè)量點(diǎn).只需具備基本電腦技能，就可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方。
- 型號(hào)：F54
- 更新日期：2025-06-24 ￥1
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- F10-HCFilmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來(lái)。F10-HC 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)接觸式探頭大大降低反射干擾的影響，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x軟件的模擬演算法的設(shè)計(jì)，能夠在厚膜中測(cè)量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。
- 型號(hào)：F10-HC
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F10-ARFilmetrics 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測(cè)量?jī)x是操作簡(jiǎn)單且高性價(jià)比的減反射與硬涂層檢測(cè)設(shè)備。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度測(cè)量?jī)x使得自動(dòng)測(cè)試眼科涂層變得又快又簡(jiǎn)便?，F(xiàn)在，不論?產(chǎn)線操作?員還是研發(fā)技術(shù)?員都能在?秒鐘內(nèi)檢測(cè)和記錄涂層厚度情況。
- 型號(hào)：F10-AR
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F3-sXFilmetrics 光學(xué)厚膜測(cè)厚儀
Filmetrics F3-sX 光學(xué)厚膜測(cè)厚儀利用光譜反射原理，可以測(cè)量厚度達(dá)到3毫米的眾多半導(dǎo)體及介電層薄膜。相對(duì)于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列膜厚儀配置10微米的測(cè)量光斑，從而可以容易地測(cè)量其他膜厚測(cè)量?jī)x器不能測(cè)量的膜層，并且僅在幾分之一秒內(nèi)完成。F3-sX膜厚儀在Si晶圓厚度測(cè)量、護(hù)涂層、IC芯片失效分析、厚光刻膠等方面優(yōu)異表現(xiàn)。
- 型號(hào)：F3-sX
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
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- F37Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀 嵌入式在線診斷 免費(fèi)離線分析軟件 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測(cè)量結(jié)果
- 型號(hào)：F37
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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- F3-sXFilmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測(cè)試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀 F3-sX 信息，咨詢。
- 型號(hào)：F3-sX
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
