Filmetrics 自動光學膜厚測量儀
簡要描述:Filmetrics 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng),可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量,達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性,矩形或線性測量坐標圖案中選擇,也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置,任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
產(chǎn)品型號:F54-XY-200
廠商性質:代理商
更新時間:2025-09-23
訪  問  量:1994
Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀

Filmetrics 自動光學膜厚測量儀介紹:
Filmetrics F54-XY-200 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng),可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量,達到每秒兩點。您可以從數(shù)十種預定義的極性,矩形或線性測量坐標圖案中選擇,也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設置,任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀特點優(yōu)勢:
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng),快速定位、實時獲得結果;
可測樣品膜層:基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量;
測繪結果可用2D或3D呈現(xiàn),方便用戶從不同的角度檢視;
測量原理:
當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

工業(yè)應用:
半導體膜層  | 顯示技術  | 消費電子  | 派瑞林  | 
光刻膠  | OLED  | 防水涂層  | 電子產(chǎn)品/電路板  | 
介電層  | ITO和TCOs  | 射頻識別  | 磁性材料  | 
砷化鎵  | 空氣盒厚  | 太陽能電池  | 醫(yī)學器械  | 
微機電系統(tǒng)  | PVD和CVD  | 鋁制外殼陽極膜  | 硅橡膠  | 
參數(shù):
波長范圍:  | 190nm-1700nm  | 光源:  | 鎢鹵素燈、氘燈  | 
測量nk值厚度要求*:  | 50nm  | 測量精度2:  | 0.02nm  | 
準確度*:取較大者  | 1nm或0.2%  | 穩(wěn)定性3:  | 0.05nm  | 
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取  | |||




