HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀

HORIBA 納米顆粒分析儀介紹：  

一臺簡潔小巧的裝置能同時實(shí)現(xiàn)對納米粒子三項參數(shù)的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。  

納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質(zhì)以獲得新、好、優(yōu)良的材料和產(chǎn)品。為了得到效率高性能好的產(chǎn)品，并減少能量的消耗，HORIBA推出了SZ-100V2納米顆粒分析儀。此儀器通過簡單操作即可對納米顆粒進(jìn)行多參數(shù)分析！以技術(shù)簡單而精確地呈現(xiàn)納米粒子尺寸及分散體系的穩(wěn)定性，為您開啟納米科技前進(jìn)之門！  

HORIBA 納米顆粒分析儀特點(diǎn)：  

粒徑測量范圍0.3nm~10μm  

SZ-100V2系列采用動態(tài)光散射原理(DLS)測量粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，不論濃度是ppm級還是高達(dá)百分之幾十，均可準(zhǔn)確測量。可使用市售樣品池。測量微量樣品也極為方便。  

Zeta電位測量范圍?500~+500mV  

使用HORIBA的微量樣品池，樣品量僅需100μL。通過Zeta電位值可以預(yù)測及控制分散體系的穩(wěn)定性。Zeta電位越高意味著分散體系越穩(wěn)定，對于配方研究工作意義重大。  

分子測量范圍1×103~2×107  

通過測量不同濃度樣品的靜態(tài)散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計算絕對分子質(zhì)量(Mw)和第二維利系數(shù)(A2)。  

HORIBASZ-100V2納米顆粒分析超高的智能化和學(xué)習(xí)能力可以快速為您確定納米粒子的特性！  

SZ-100V2系列可測量的樣品濃度范圍很廣，所以幾乎無需對樣品進(jìn)行稀釋和其他處理。雙光路系統(tǒng)(90°和173°)設(shè)計，既能對高濃度樣品進(jìn)行測量，如釉漿和顏料，也能測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)和聚合物。  

將表征納米粒子的三大參數(shù)的測量融于一體：粒子直徑、Zeta電位和分子量。  

HORIBA開發(fā)的一次性Zeta電位測量樣品池可杜絕樣品污染。專用超微量樣品池(最小容量100μL)簡單易用，且適合分析稀釋的樣品。  

HORIBA研發(fā)的Zeta電位專用石墨電極，可用于測量強(qiáng)腐蝕性的高鹽樣品。  

HORIBASZ-100V2納米顆粒分析儀測量原理：  

粒徑測量原理  

HORIBASZ-100V2納米顆粒分析儀采用動態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑，通過測量粒子的散射光強(qiáng)度隨時間的波動。納米粒子的布朗運(yùn)動引起光強(qiáng)的波動，對其進(jìn)行統(tǒng)計分析可與粒子的擴(kuò)散相聯(lián)系。由于布朗運(yùn)動的激烈程度與粒徑大小顯著相關(guān)，從而可以建立粒徑與散射光強(qiáng)度波動的關(guān)系。  

Zeta電位測量原理（激光多普勒電泳法）  

處于懸浮液中的納米粒子和膠體粒子大多表面帶有電荷。當(dāng)電場作用于液體時，帶電粒子將會在電場的影響下運(yùn)動。運(yùn)動的方向及速度與粒子的帶電量、分散介質(zhì)和電場強(qiáng)度有關(guān)。通過觀察散射光的多普勒頻移從而測量粒子的運(yùn)動速度。粒子的運(yùn)動速度與粒子剪切面上的電位(即Zeta電位)成正比，因此可以通過測量粒子在電場作用下的運(yùn)動而得到粒子的Zeta電位。  

分子量測量原理  

HORIBASZ-100V2納米顆粒分析儀采用兩種方法來測量大分子如聚合物、蛋白質(zhì)和淀粉等的分子量。第一種方法采用動態(tài)光散射得到的粒徑信息和MarkHouwink方程。第二種方法是德拜記點(diǎn)法。  

HORIBASZ-100V2納米顆粒分析儀主要應(yīng)用：

HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀附件選項：

樣品池

自動滴定儀

可以用于Zeta電位或粒徑測量過程中的pH值的自動滴定，是等電點(diǎn)測量的理想選擇。

HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀產(chǎn)品參數(shù)：

HORIBA SZ-100V2納米顆粒分析儀測量案例：

生物材料：膠體金顆粒粒徑測量結(jié)果