XRF鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量誤差原因請(qǐng)看下面分析

　　X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時(shí)又給出實(shí)際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。

　　對(duì)XRF鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量誤差分析如下：

　　1、對(duì)于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測(cè)量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難測(cè)量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度小于5μm的情況；對(duì)于較厚的覆蓋層，其測(cè)量結(jié)果相對(duì)誤差近似為一常數(shù)，誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。

　　2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后，其磁特性均有較大差異，而材料的磁特性差異會(huì)直接影響對(duì)磁鐵或檢測(cè)線圈的磁作用，為減小或消除磁特性差異產(chǎn)生的影響，應(yīng)采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

　　3、由于磁場(chǎng)在鐵磁性基體材料中的分布狀態(tài)在一定范圍內(nèi)與基體厚度密切相關(guān)，當(dāng)基體厚度達(dá)到某臨界厚度時(shí)，這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時(shí)，應(yīng)通過化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

　　4、儀器對(duì)試樣表面的不連續(xù)敏感，太靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處測(cè)量時(shí)，磁場(chǎng)將會(huì)發(fā)生變化，測(cè)量結(jié)果將不可靠。因此，不要在靠近不連續(xù)的部位如邊緣、孔洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

　　5、金屬機(jī)械加工方向?qū)Σ牧系拇盘匦詴?huì)產(chǎn)生較大影響，當(dāng)使用雙極式測(cè)頭或被磨損而不平整的單極式測(cè)頭測(cè)量時(shí)，測(cè)量結(jié)果會(huì)受到磁性基體金屬機(jī)械加工（如軋制）方向的影響。因此，在試樣上測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭的方向與在校準(zhǔn)時(shí)該測(cè)頭所取方向一致。

　　6、金屬材料由于磨削等加工方式可能帶來剩磁，影響儀器測(cè)量，試樣測(cè)量前應(yīng)進(jìn)行消磁處理，并在互為180°的兩個(gè)方向上進(jìn)行測(cè)量。

　　7、基體金屬曲率的變化將影響測(cè)量結(jié)果，曲率半徑越小，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響越大。當(dāng)測(cè)量曲率較小的試樣時(shí)，應(yīng)通過化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣的無膜部分作為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

　　8、基體金屬表面粗糙度將影響測(cè)量結(jié)果，粗糙度程度增加，對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響增大。應(yīng)對(duì)試樣基體多個(gè)位置進(jìn)行零點(diǎn)校正，并在試樣不同位置上進(jìn)行多次測(cè)量，測(cè)量次數(shù)至少應(yīng)增加到5次或以上，以減小影響。