優(yōu)尼康攜filmetrics膜厚儀F40參加2019BCEIA展會

2019年10月23-26日，第十八屆北京分析測試學術(shù)報告會暨展覽會“BCEIA2019”將在北京·國家會議中心隆重開幕，展出國內(nèi)外500余家參展企業(yè)帶來的數(shù)千項新的產(chǎn)品和技術(shù)，如儀器設(shè)備、試劑、軟件和分析測試服務(wù)等；

優(yōu)尼康也秉著相互交流促進發(fā)展的目標參加了這次展會。帶來展示的為美國Flmetrics公司的膜厚儀F40(見下圖)

展會現(xiàn)場圖

優(yōu)尼康科技有限公司提供的設(shè)備包括膜厚測量；表面輪廓測量；薄膜力學性能測量以及減震消磁系統(tǒng)等多個領(lǐng)域，本次參展由于展位空間限制，未能帶更多的實物展品加入展出，實在遺憾。

在4天的參展時間內(nèi)，優(yōu)尼康和很多用戶和經(jīng)銷商進行了成功的交流，也向大家展示和介紹了我們的產(chǎn)品，下一屆BCEIA，我們會攜更豐富的產(chǎn)品和更好的服務(wù)等待大家的到來。